• X荧光镀层厚度分析仪

    详细信息

     品牌:关河仪器  加工定制:是  型号:iEDX-150WT  
     类型:多元素    

    采用非真空样品腔; 
    *用于金属电镀镀层分析;
    可同时分析镀层中的合金成分比列。

     

     

    应用领域:

    金属电镀镀层分析领域
     

    技术指标:

    >多镀层,1~6层
    >测试精度:0.01 um

    >多次测量重复性误差<0.1%

    >元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

    >测量时间:10-60秒

    >Si-PIN探测器,能量分辨率为125±5电子伏特

    >微焦X射线管50KV/1mA,钨靶,焦斑尺寸 75um

    >7个准直器及6个滤光片自动切换

    XYZ三维移动平台,荷载为5公斤

    > 高清CCD摄像头,精确监控位置

    >多变量非线性去卷积曲线拟合>高性能FP/MLSQ分析

    >平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
     

    图谱界面:

    >软件支持无标样分析

    >超大分析平台和样品腔

    >集成了镀层界面和合金成分分析界面

    >采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

    >分析精度可达到0.01um


     

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