- X荧光镀层厚度分析仪
详细信息
品牌:关河仪器 加工定制:是 型号:iEDX-150WT 类型:多元素 采用非真空样品腔;
*用于金属电镀镀层分析;
可同时分析镀层中的合金成分比列。应用领域:
金属电镀镀层分析领域
技术指标:
>多镀层,1~6层
>测试精度:0.01 um>多次测量重复性误差<0.1%
>元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
>测量时间:10-60秒
>Si-PIN探测器,能量分辨率为125±5电子伏特
>微焦X射线管50KV/1mA,钨靶,焦斑尺寸 75um
>7个准直器及6个滤光片自动切换
> XYZ三维移动平台,荷载为5公斤
> 高清CCD摄像头,精确监控位置
>多变量非线性去卷积曲线拟合>高性能FP/MLSQ分析
>平台移动范围 300(X)x300(Y)x25 (Z)mm
图谱界面:
>软件支持无标样分析
>超大分析平台和样品腔
>集成了镀层界面和合金成分分析界面
>采用先进的多种光谱拟合分析处理技术
>分析精度可达到0.01um
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